国家仪器（NATIONAL INSTRUMENTS）(NI)PXI-2512开关模块

设备简介：National Instruments PXI‑2512 是基于标准PXI总线架构的7通道FET型故障注入单元（FIU）固态开关模块，采用无触点FET半导体开关，具备超长使用寿命、高速切换特性。模块搭载直通式信号通道与两路故障总线，可仿真线路开路、对地短路、对电源短路、通道互短等各类电气故障，是硬件在环HIL仿真、车载电控系统测试、电子设备可靠性失效模拟、自动化故障复现测试的专用模块化硬件，广泛应用汽车电子、航空控制、电力电子测试平台搭建。 一、核心通道与电气参数 - 通道拓扑：7路独立直通馈通通道，配置两路公共故障总线，每通道可独立断开或接入故障总线，支持独立拓扑控制模式 - 开关器件类型：FET固态开关，无机械触点，不存在机械磨损，适合高频次、长时间连续故障注入测试 - 额定电气指标：最大切换电压50 VDC /30 VACrms；单通道持续电流10 A；最大脉冲电流50 A（脉宽≤600 μs）；单通道最大切换功率500 W - 通路特性：直流导通阻抗≤35 mΩ，带宽最高800 kHz，满足CAN等低速通信信号与直流功率信号传输需求 二、动态性能与硬件特性 - 切换速度：典型动作时间13 μs，最大35 μs，支持实时系统快速动态故障注入，适配实时HIL仿真时序要求 - 触发同步能力支持PXI背板0~7号硬件触发总线，可与机箱内采集模块、IO模块、负载模块精准时序同步 - 过流保护内置硬件过流检测，典型阈值10.5 A，可实时监测通道过载状态，避免模块与被测器件损坏 - 长期稳定性固态开关理论开关次数无上限，宽温工作区间0~50℃，适合实验室及工业测试平台7×24小时不间断运行